【出版社商品紹介】
どの手法で何がわかるかのノウハウを紹介　ナノテクノロジー材料の登場に伴い急速に展開しているスペクトロスコピーによる固体表面の特性評価法を、多様な手法の専門家が具体例をもとにわかりやすく解説

ＸＰＳ（Ｘ線光電子分光）
ＸＡＦＳ（Ｘ線吸収微細構造）
ＵＶ／ＶＩＳ（紫外／可視）・ＰＬＳ（光ルミネセンス）
ＩＲ（赤外）・Ｒａｍａｎ（ラマン）分光法
ＥＳＲ（電子スピン共鳴）
ＮＭＲ（核磁気共鳴）
ＴＥＭ（透過電子顕微鏡）・ＳＥＭ（走査電子顕微鏡）
ＳＴＭ（走査トンネル顕微鏡）・ＡＦＭ（原子間力顕微鏡）
昇温スペクトル
ＭＳ（質量分析）・ＳＩＭＳ（二次イオン金属分析）
ＣＶ（サイクリックボルタンメトリー）
「目で学ぶ」ケーススタディー