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ＸＡＦＳの基礎と応用

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著者名 日本XAFS研究会
出版社 講談社
販売開始 2017年12月22日
参考価格 ￥5,060（2024年5月7日現在）
内容 XAFSの理論･解析法はもちろん、放射光を利用した測定系や時間･空間分解測定、全反射測定、高圧下での測定、その場測定、界面や生体試料を対象とした測定まで、XAFSのすべてがわかる研究者必携の1冊です。本書は2002年刊行『X線吸収分光法─XAFSとその応用』(太田俊明 編･アイピーシー刊)の全面改訂版です。旧版の良い点を受け継ぎ、新しい測定法や解析法を追加しました。※この商品は紙の書籍のページを画像にした電子書籍です。文字だけを拡大することはできませんので、タブレットサイズの端末での閲読を推奨します。また、文字列のハイライトや検索、辞書の参照、引用などの機能も使用できません。
ジャンル 学術・語学,教育
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